本課程將介紹材料分析上之基礎儀器原理、構造、應用、操作與數據解析，包含繞射原理、X光單晶繞射與粉末繞射之分析技術與應用，SEM、TEM、FIB等電子顯微影像技術，TEM繞射解析，EDS、EPMA之組成分析技術，ESCA(XPS)分析技術，SIMS二次離子質譜儀分析，熱分析包含DTA、DSC、TGA、TMA等。